Page 73 - utiterv
P. 73
8.4. FIZIKAI ÉS MÉRNÖKI TUDOMÁNYOK
Nanokarakterizációs laboratórium új korszerű anyagok kifejlesztéséhez
Eötvös Loránd Tudományegyetem Természettudományi Kar Műszerközpont
A projekt száma: A projekt bemutatása
VEKOP-2.3.3.-15-2016-0003 A szerkezeti anyagok használata közben bekövetkező olyan változások, amelyek dön-
tően befolyásolják az anyag használhatóságát a mikroszerkezet változásának követ-
Projektvezető intézmény: kezményei. Ezért a mikroszerkezet feltárása alapvető fontosságú új korszerű anyagok
Eötvös Loránd kifejlesztéséhez és élettartamuk meghatározásához. Az ELTE TTK mikroszerkezet-
Tudományegyetem kutatási laboratóriumában három olyan eszköz áll rendelkezésre, amely három kü-
Természettudományi Kar lönböző: atomi, nanométeres, illetve mikrométeres méretskálán tudja meghatározni
a mikroszerkezetet.
Projektvezető: A legnagyobb berendezés a Magyarországon unikális FEI Quanta 3D típusú pász-
Groma István tázó elektronmikroszkóp, amely egy nagy felbontású kétsugaras készülék (SEM/FIB).
A két sugár azt jelenti, hogy rendelkezik elektronforrással és ionforrással is. Az elekt-
A projektvezető elérhetősége: ronnyaláb és az ionnyaláb egyaránt alkalmas arra, hogy mikroszkópi képet készíthes-
groma@metal.elte.hu sünk, ugyanakkor az ionnyaláb az anyagminta felületének nanométeres skálán való
megmunkálását is lehetővé teszi. A berendezés több detektorral is el van látva: A legki-
Támogatási összeg: sebb energiájuk a szekunder elektronoknak van, ami ~1 nm-es felbontást eredményez.
155 595 855 Ft A valamivel nagyobb energiájú visszaszórt elektronok nagyobb mélységből ~2–4 nm
felbontással szolgáltatnak információt. A röntgenfotonok energiája információt nyújt
A KI típusa: arról, hogy milyen atomból származik. Ezért az összegyűjtött röntgenfotonok energi-
egyetlen telephelyen működő ájának mérésével a minta összetétele analizálható, akár a minta egy pontjában, akár a
felülete mentén. A berendezés transzmissziós üzemmódban (STEM) is működtet-
Honlap: hető, valamint képes visszaszórt elektrondiffrakció (EBSD) vizsgálatra is.
http://sem.elte.hu A felületek atomi szerkezetének feltárására a projekt során újonnan beszerzett a HO-
RIBA Advanced Integrated Scanning Tools for Nano-Technology SPM
SmartSPMTM-1000 berendezés szolgál, amely működik, non-contact AFM, con-
tact AFM, Kelvin probe force microscopy, Piezo response force microscopy, STM,
magnetic force microscopy, shear force microscopy üzemmódokban, valamint nano-
litográfiat is lehet vele készíteni.
A projekt során újonnan beszerzett RIGAKU SmartLab röntgen-diffraktométer,
amely egy igen korszerű detektorral és vezérlőegységgel van ellátva, egyrészt hagyo-
mányos pordiffrakciós méréseket tesz lehetővé a mintában levő fázisok meghatáro-
zására, másrészt egy megfelelő mozgató, illetve forgató asztal behelyezésével képes a
textúra meghatározására is. Emellett mód van röntgenvonalprofil-mérések végzésére
is, ami közvetlenül lehetővé teszi mikroszerkezeti paraméterek (szemcseméret, disz-
lokációsűrűség stb.) meghatározását.
73
